SJ 50033.116-1997 半导体分立器件2CK29型硅大电流开关二极管详细规范
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ID： |
D2C28081910541CBB390A33F8777911E |
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0.47 |
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11 |
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日期： |
2024-7-27 |
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SJ 中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/116-97,半导体分立器件,2CK29型硅大电流开关二极管,详细规范,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type 2CK29,silicon large current switch diode,1997.06发布1997-10-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,www. bzfxw. com 下载,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,2CK29型硅大电流开关二极管详细规范,Semiconductor discrete devices,Detail specification for type 2CK29,silicon large current switch diode,SJ 50033/116-97,1范围,1.1 主题内容,本规范规定了 2CK29型硅大电流开关二极管（以下简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.1 器件的等级,每种器件按GJB 33—85《半导体分立器件总规范》1.3的规定,提供的质量等级为普军、特,军和超特军级三个等级,分别用字母GP、GT、GCT表示,2引用文件,GB 4023-86半导体分立器件第二部分:整流二极管,GB 6571-86小功率信号二极管、稳压及基准电压二极管测试方法,GJB 33-85 半导体分立器件总规范,GJB 128-86半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,各项要求应符合GJB 33及本规范的规定,3.2 设计和结构,器件的设计和结构应符合GJB 33和本规范的规定,3.2.1 引出端材料和涂层,引出端材料应为可伐,引出端表面镀涂层为镀银层。对引出端材料和涂层另有耍求时,在,合同或订货单中应明确规定（见6.2）,中华人民共和国电子工业部1997-06-17发布 !997-10-0I实施,—1 —,SJ 50033/116-97,3.2.2 器件结构,器件采用硅外延平面结构,芯片表面采用钝化膜保护,芯片与引出端之间采用超声键合,3.2.3 外形尺寸,外形尺寸符合本规范图1的规定,、正极,2/,管座;负极,图1外形图,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3.1 最大额定值,—2,下载,SJ 50033/116-97,型号,Vrwm,V,ゼ,Tc=ioor,A,【FSM,Tc=100t,ち: 10ms,A,Tjm,C,%,C,丁班,ヒ,2CK29A 500,5 100 175 - 65~175 - 65~175,2CK29B 600,2CK29C 700,2CK29D 800,注:l）Tc>100C时,按67mA/t线性降额,3.3.2主要电特性（Ta = 25じ）,型号,Vf,Jf = 5A,V,1Ri,VR= Vrwm,込,“,Vr= Vrwm,Ta=150匕,dA,%,If = 0.5A,Ir=1A,ns,Ctot,Vr=12V,f= 1MHz,pF,^(th)j-c,/h = 4A, z= Is,/"m = 10mA,K/W,最大值最大值最大值最大值最大值最大值,2CK29A,1.3 4 500 800 50 2.5,2CK29B,2CK29C,2CK29D,3.4 电测试要求,电测试应符合GB 4023、GB 657t及本规范的相应规定,3.5 标志,器件的标志应符合GJB 33和本规范的规定,3.5.1 极性,器件的引出端1和2为正级,管座为负极,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验符合GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验符合GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,筛选按GJB 33表2和本规范的规定进行,其测试应按本规范表1的规定进行,超过本规,范表1极限值的器件应予剔除,3,SJ 50033/116-97,筛 选,筛 选,（见 GJB 33 表 2）,GJB 128,方法号,测试或试验,（GT 和 GCT 级）,3.热冲击,（温度循环）,1051 除高温1501c,循环20次外,其余同试睑条件C,5.密封,a细检漏,b粗检漏,1071,试验条件H,试验条件C,7.中间电参数和,（4）参数测试,I m、%,iAVF<0.1V,或100%初始值,取较大者,8.老炼1038 试险条件B,见4.3.1,9.最后测试Jri、Vf'Irz、ス,IAVfK0.1V,△Iri?1/xA或100%初始值,取较大者,11.外观及机械检验2071 见附录A,4.3.1 老炼条件,老炼条件按如下规定:,￡=1003。匕,/= 50Hz正弦半波,IO = 5A,t = 96h,4.4 质量一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33和本规范的规定进行,由A组、B组和C组检验和试验组成,4.4.1 A组检验,A组检验按GJB 33和本规范表1规定进行,4.4.2 B组检验,B组检验按GJB 33和本规范表2规定进行,4.4.3 C组检验,C组检验按GJB 33和本规范表3规定进行,4.4.4 B组和C组电测试,B组和C组电测试按GJB 33和本规范表4规定进行,4.5 检验和试验方法,检验和试验方法应按本规范相应的表和下列规定进行,4.5.1 脉冲测试,脉冲测试条件按如下规定:,SJ 50033/116-97,脉宽 ip = 500fzs±20%;,占空比:0.1〇%.0.15%,4.5.2 反向恢复时间测试,反向恢复时间测……
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